Исследование заданной системы на устойчивость двумя критериями

Критерий Найквиста относится к частотным критериям устойчивости. Частотные критерии устойчивости позволяют судить об устойчивости САУ по виду их частотных характеристик.

Для определения устойчивости необходимо рассмотреть логарифмические амплитудно-частотные характеристики. По их взаимному расположению судят об устойчивости замкнутой системы.

Сформулируем критерий Найквиста в логарифмических координатах. Если разомкнутая система устойчива, то для устойчивости заданной САУ необходимо и достаточно, чтобы ЛФЧХ при изменении частоты от 0 до ∞ пресекала линию 180 град справа от частоты среза (точка пересечения ЛАЧХ с осью абсцисс).

Преобразуем структурную схему САУ в одноконтурную, состоящую из последовательно соединённых типовых динамических звеньев. Часть преобразований мы проделали ранее.

, где , ,

Рис.4 Структурная схема преобразованной САУ

Первое звено:

Т.к. коэффициент демпфирования больше 1, инерционное звено 2-го порядка необходимо разложить на 2 апериодических.

Преобразуем уравнение:

Второе звено:

Т3э=0,09

После проделанного преобразования мы получили два апериодических и одно колебательное звено.

Структурная схема примет вид:

Рис.5 Структурная схема САУ после преобразования

Значит ЛАЧХ будет иметь три излома.

Построим логарифмическую амплитудно-частотную характеристику (ЛАЧХ) в разомкнутом состоянии.

lgКраз=24,2 (дБ)

Находим частоты сопряжения:

(с-1)

(с-1)

(с-1)

Рассчитаем:

(дек)

Интересное из раздела

Расчет характеристик сигналов и каналов связи
В последнее десятилетие ХХ века произошла научно-техническая революция в области транспортной связи, в основе которой лежат два крупных достижения ...

Микроэлектроника. Новая быстро развивающаяся технология
Электроника прошла несколько этапов развития, за время которых сменилось несколько поколений элементной базы: дискретная электроника электровакуумных прибор ...

Устройство оперативной памяти статического типа емкостью 12 Кб для микропроцессора Intel 8080
Одним из ведущих направлений развития современной микроэлектронной элементной базы являются большие интегральные микросхемы памяти, которые служат основой д ...