Словарь неисправностей позволяет обнаруживать неисправный элемент при помощи формальной процедуры. Для этого на входы системы подают допустимые воздействия и выполняют измерения в контрольных точках, соответствующих проверкам, входящим в словарь неисправностей. Результаты измерения сравнивают с данными, приведенными в словаре неисправностей. По совпадению судят о номере неисправного элемента.
Второй вариант диагностического теста используют тогда, когда задача поиска неисправностей и задача проверки системы совмещаются в едином процессе диагноза. Такой подход часто используют на практике. В этом случае
Тд’= Тп·φ1,2·φ1,3·……·φ7,8 (1.2.3)
Для рассматриваемого примера Тд* определяем так: ТД*= Тп• ТД (1.2.4)
Полученное выражение содержит два минимальных теста:
Таблица 1.2.2 - Словарь неисправностей для диагностического теста Тд2*
Проверка |
Результат Rji проверки для системы, находящейся в состоянии Si | |||||||
S0 |
S1 |
S2 |
S3 |
S4 |
S5 |
S6 |
S7 | |
π2 |
1 |
1 |
0 |
1 |
1 |
1 |
1 |
1 |
π3 |
1 |
1 |
1 |
0 |
1 |
1 |
1 |
1 |
π4 |
1 |
1 |
1 |
0 |
0 |
1 |
1 |
1 |
π5 |
1 |
0 |
0 |
1 |
1 |
0 |
1 |
1 |
π6 |
1 |
1 |
1 |
0 |
0 |
1 |
0 |
1 |
π7 |
1 |
1 |
1 |
1 |
1 |
1 |
1 |
0 |
π8 |
1 |
1 |
1 |
1 |
1 |
1 |
1 |
1 |
Анализ и синтез САУ методом корневого годографа
- Изучение системы автоматического регулирования (САР).
- Оценка качеств, характеристик САР
(устойчивости, ошибки, переходного процесса) по различн ...
Расчет спектра и энергетических характеристик сигнала
В последнее десятилетие ХХ века произошла научно-техническая революция в
области транспортной связи, в основе которой лежат два крупных достижения науки
сер ...
Устройство оперативной памяти статического типа емкостью 12 Кб для микропроцессора Intel 8080
Одним
из ведущих направлений развития современной микроэлектронной элементной базы
являются большие интегральные микросхемы памяти, которые служат основой д ...