,
где - число изделий в начале испытания;
- число отказавших изделий за время
.
;
.
Результаты вычислений заносим в таблицу 1.2.
Табл. 1.2
| |||
0÷100 |
0,930 |
0,70 |
0,73 |
100÷200 |
0,896 |
0,34 |
0,37 |
200÷300 |
0,855 |
0,41 |
0,46 |
300÷400 |
0,831 |
0,24 |
0,28 |
400÷500 |
0,805 |
0,26 |
0,32 |
500÷600 |
0,778 |
0,27 |
0,34 |
600÷700 |
0,753 |
0,25 |
0,33 |
700÷800 |
0,725 |
0,28 |
0,38 |
800÷900 |
0,699 |
0,26 |
0,37 |
900÷1000 |
0,669 |
0,30 |
0,44 |
1000÷1100 |
0,641 |
0,28 |
0,43 |
1100÷1200 |
0,608 |
0,33 |
0,53 |
1200÷1300 |
0,572 |
0,36 |
0,61 |
1300÷1400 |
0,509 |
0,63 |
1,17 |
1400÷1500 |
0,425 |
0,84 |
1,80 |
2. Вычислим частоту отказов:
,
Проект системы видеонаблюдения для малых предприятий на базе OOO Лоцман-БТ
В наши дни системы видеонаблюдения выделились в самостоятельную область
средств охраны, имеющую собственные правила и особенности эксплуатации. Системы
виде ...
История появления полупроводниковых интегральных схем
сентября 1958 года сотрудник фирмы Texas Instruments (TI) Джек Килби
продемонстрировал руководству три странных прибора - склеенные пчелиным воском
на стеклянно ...
Расчет параметров различных видов сигналов
В последнее десятилетие ХХ века произошла научно-техническая
революция в области транспортной связи, в основе которой лежат два крупных
достижения науки сер ...