Не рассчитывается в данной работе.
Здесь и ниже, в качестве НЕ расчетных(справочных) λ будем принимать значение интенсивности отказа резистора =0,04*10-6 ,ч-1 [5]
.2 Интенсивность отказов аппаратуры
Интенсивность отказов субблоков j-го типа определяется по формуле
, (36)
где - интенсивность отказов схем широкого применения;
- интенсивность отказов микросборок;
- интенсивность отказов паяного контакта.
Количество выводов микросборки определяется по формуле
К1-коэффициент разветвленности = 4 [в соответствии с рекомендацией]
. (37)
Для J=128
Для J=512
Интенсивность отказов субблоков
1) Для J =128
а) конструкция книжная
=
=6,8*10-5 ,ч-1
б) конструкция кассетная
6,8*10-5 ,ч-1
в) конструкция разъемная
6,8*10-5 ,ч-1
2) Для J =512:
а) конструкция книжная
=
=7.1*10-5 ,ч-1
б) конструкция кассетная
7.1*10-5 ,ч-1
в) конструкция разъемная
7.1*10-5 ,ч-1
Количество внешних выводов разъема кассеты в устройстве управления определяется по формуле
. (38)
1) Для J=128
2) Для J=512
Количества внешних выводов разъема кассеты в устройстве ввода-вывода определяется по формуле
. (39)
1) Для J=128
2) Для J=512
Количество внешних выводов разъема кассеты в арифметическом устройстве определяется по формуле
. (40)
1) Для J=128
=557
2) Для J=512
Интенсивность отказов кассеты устройства управления определяется по формуле
, (41)
Анализ и синтез САУ методом корневого годографа
- Изучение системы автоматического регулирования (САР).
- Оценка качеств, характеристик САР
(устойчивости, ошибки, переходного процесса) по различн ...
История появления полупроводниковых интегральных схем
сентября 1958 года сотрудник фирмы Texas Instruments (TI) Джек Килби
продемонстрировал руководству три странных прибора - склеенные пчелиным воском
на стеклянно ...
Определение параметров нелинейности усилителя аппаратуры ВЧ связи по ЛЭП на основе аппроксимации его коэффициента усиления и выбор оптимального режима
1. Аппроксимировать
полиномом седьмой степени экспериментальную зависимость коэффициента усиления
Кэ = f ( Uсм
) заданного усилительного каскада н ...