Разделы сайта

Построение проверяющего и диагностического тестов для комбинационных схем на логических элементах

Для диагностирования задана следующая функция:

Логическая схема, исполняющая данную функцию будет выглядеть следующим образом:

Рисунок 3.4 - Логическая схема функции F

Необходимо нанести неисправности компонент схемы. Под компонентами понимают входы и выходы элементов, и входы схемы.

Если выход элемента или вход схемы соединен с входом только одного элемента, то это соединение рассматривают как одну компоненту. Если в схеме имеется точка разветвления, то в качестве компонент выступают как точки разветвления, так и все ветви разветвления. Для каждой компоненты указывают две константные неисправности К->1 и К->0.

Для каждого логического элемента наносятся графы эквивалентных неисправностей и указывают отношения импликации между неисправностями, в результате чего устанавливают отношения между неисправностями для всей схемы.

Нумеруются неисправности, причем среди эквивалентных неисправностей нумеруют только одну, ближе всех расположенную к выходу (для нее наиболее просто вычислить проверяющую функцию); все неисправности, к которым направлены дуги, не нумеруют; если хотя бы к одной из эквивалентных неисправностей направлена дуга, то ни одну из них не нумеруют. В результате данной операции сокращают список неисправностей, которые необходимо рассматривать при построении теста. В данной схеме пронумеровано 15 неисправностей, в то время как исходное множество содержит 26 неисправностей.

система тест железнодорожный автоматика

Рисунок 3.5 - Логическая схема функции F с обозначением неисправностей

Функция i-ой неисправности рассчитывается следующим образом: например для первой неисправности на выходе элемента И фиксируется 0, этот элемент реализует функцию , следовательно для получения функции f1 в формулу надо подставить 0 вместо .

После минимизации некоторых полученных функций неисправностей получили, что и

Составляем ТФН:

Таблица 3.1 - Таблица ТФН для функции F

Входной набор

Функция неисправности

F

f1

f2

f3

f4

f5

f6

f7

f8

f9

f10

f11

f12

f13

f14

f15

abc

0

000

1

1

1

0

1

1

1

1

1

1

1

1

1

1

0

1

1

001

0

0

0

0

1

1

0

1

0

0

1

0

1

0

0

1

2

010

1

0

1

1

1

1

1

1

1

1

0

1

1

1

1

1

3

011

1

0

1

1

1

1

1

1

1

1

1

1

1

0

1

1

4

100

1

1

1

0

1

1

1

1

1

1

1

1

0

1

1

1

5

101

1

1

0

1

1

1

1

1

1

1

1

0

1

1

1

1

6

110

0

0

0

0

0

0

1

0

1

1

0

1

0

1

1

0

7

111

1

1

0

1

1

1

1

1

1

1

1

1

1

1

1

0

Перейти на страницу: 1 2 3 4 5 6

Интересное из раздела

Проблемы обнаружения и подавления работы радиоуправляемых взрывных устройств
Цель контрольной работы - описать проблемы обнаружения и подавления работы радиоуправляемых взрывных устройств и сотовых телефонов, выявить основные методы ...

Двухканальный усилитель низкой частоты 2х22Вт
Предлагаемый усилитель обладает малыми габаритами и широким диапазоном питающих напряжений. УНЧ воспроизводит частоты 45 Гц…20 кГц при коэффициенте нелинейн ...

История появления полупроводниковых интегральных схем
сентября 1958 года сотрудник фирмы Texas Instruments (TI) Джек Килби продемонстрировал руководству три странных прибора - склеенные пчелиным воском на стеклянно ...